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產(chǎn)品概述：本系統(tǒng)適用于各種封裝的半導(dǎo)體分立器件進(jìn)行功率間歇壽命試驗(yàn)（IOL）、秒級(jí)﹙s﹚/分鐘級(jí)﹙min﹚功率循環(huán)試驗(yàn)（Power Cycling）。

       Product overview：The system is designed for Power intermittent life test (IOL), second level (s)/ minute level (min) Power Cycling test   of various packaged discrete semiconductor devices.

引用標(biāo)準(zhǔn)：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、AEC-Q101、IEC60747、AQG-324...

       Standards referenced：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、AEC-Q101、IEC60747、AQG-324.

適用器件：各種封裝類型Diode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET、GaN-HEMT等功率模塊

       Applicable device：VariousPower module with packaging methodlikeDiode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET、GaN-HEMTetc.

適用行業(yè)：軍工電子、汽車電子、消費(fèi)電子、軌道交通、半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)和封測(cè)企業(yè) ...

       Applicable industry：Military electronics、Automotive electronics、Consumer electronics、rail traffic、Semiconductor device design、Closed test enterprise